EMC知识
发布人： 发布时间：2017-6-9 点击：225次
获得电磁兼容（ＥＭＣ）测试的可重复性对于比较不同测试结果是很重要的。所以，为统一规范，很多标准试图去定义模型。但是，一个标准既能够适用于不同类型的设备，又要适用于各种可能性是非常困难的，况且前后有矛盾也经常出现。此外，当试图在设计阶段比较不同设计方案的有效性时，经常进行快速的，有时是部分的测试。在这些情况下，重复性差就成了一个更突出的问题。在这些条件下，比较从两种方案中获得的结果可能会使人费解，因为要区分变化是由设计改变引起的还是其它因素引起的是非常困难的。
人们通常认为，只有在辐射发射测量时才会分析可重复性差这个问题。然而，事实上，可重复性问题在传导发射测量时也需要考虑。本文再次回顾了那些被认为是降低传导发射可重复性以及导致同一设备后续测试结果之间的差值大于２０ｄＢ的现实情况。明确产生这一问题的原因将促使各行业采用改善可重复性的测量方案。
我们设计了一系列的使用实际原型的测量方法来阐述实际情况中的可重复性问题，并说明这些问题并不仅仅是人们想象中的，也不仅仅发生在特定的环境中。
ＥＮ５５０２２：１９９８是一个用于电磁发射测量的标准，它给出了传导发射测试中的设备布置。其仪器包括线性阻抗稳定网络（ＬＩＳＮ）Ｅlectro-Metrix ANS-25/2、Ｔektronix EM-7600/TRL-30瞬态限幅器、Ｔektronix EM-7600/TRL-30预选滤波器、Ｔektronix2712频谱分析仪，以及可自动获取测量结果的自开发软件。每个仪器都由其制造商的技术服务部门进行校准。并且，实验室有ＥＮ５５０２２：１９９８中所描述的垂直和水平接地参考面。有了这两个接地面就可以知道影响测试结果的因素是装置中的变化了。
待测设备（ＤＵＴ）是一个基于开关电源的面板温度计。这种设备的噪音非常大（由于开关电源的存在），但却被经常使用。能做测试的这种原型可使用不同的结构和状态来配置，以突出经常会遇到的一些问题。虽然此ＤＵＴ是一个未被校准的任意分布的源，但是以往的试验表明，用它来做本文所述的可重复性分析是足够稳定的了。
这个温度计装了一个热电偶作为温度传感器。制造商没有对热电偶的长度和电源电缆作出任何的限制。这种任意性使得研究人员可以探知电缆的变化是如何影响测试结果的。
这个原型可以置于塑料外壳（此时不需要设备接地连接）内，也可以置于带有用户可拆装部件（它为装置提供了地线）的盒子内。
有人也许会认为，只要仔细阅读ＥＮ５５０２２：１９９８，并且按照它的要求去做，就一定能消除由测试装置产生的测试结果的变化。然而，即使标准建立了一套测试方法，但它仍然只能是一个简要的描述。还是有些方面不能够被充分地定义，从而导致了不同的理解。有一点是很重要的，那就是我们应该意识到一个为所有产品所设计的一般标准不能符合更具体的要求。
在进行预符合测试的时候，如果不小心谨慎的话，还会加剧可重复性问题。为了近拟装置的发射电平和综合各种必须的修正，预符合测试一般在多个设计阶段的原型上进行。由于这些测试的目的是要获得快速的（尽管是近似的）结果来比较不同的设计，所以它们往往会在明知并不完全符合标准要求的测试条件下进行。在这种条件下，意识到忽略标准的部分内容将如何影响测量结果是非常重要的。
事实上，测试之间的差异可以归咎于测试装置本身的变化，或者直接与ＤＵＴ相关的变化，即由设备、电源及其它电缆的位置引起的变化。
进行传导电磁干扰（ＥＭＩ）测量的大多数装置是基于一个高８０cm的非金属转台上的垂直参考面和水平参考面的。根据标准关于距离的说明，这个装置使测试可以在台式或者立式的设备上进行。然而，其位置以及ＬＩＳＮ如何连接并没有精确地定义，这正是装置本身引起变化的主要来源。
一些自己可以进行测试的公司把ＥＭＣ测试设备看成一个辅助实验室，它仅在需要时才建立起来，而不象公司里其它实验室中的装置是固定的。在这种暂时的条件下，两次测试中的装置必然会有一些变化，这就使得实际中要为保证重复性而提供所需的不变条件是不可能的。
为了阐明这将如何影响位置和ＬＩＳＮ的地线连接，我们来看看两种不同的布置。在第一种布置中，ＬＩＳＮ放在测试台上，用一根横截面积为１平方毫米、长度为１米的电缆与垂直面相连。在第二种布置中，ＬＩＳＮ放在地面上，并与水平面可靠连接。在两种情况中，ＤＵＴ均放置在离垂直面４０厘米的地方，热电偶导线拉直并与该面平行。
两个实验所获得结果如图１所示。为了更容易地比较这些结果，图１还包括了这样一幅图，它示出了两次实验室中所测得电平的包络。高频范围的重大差别是由于ＬＩＳＮ接地线的电感的不同。此外，ＬＩＳＮ相对于接地面位置的变化及电容耦合是１ＭＨｚ以下频段测试结果变化的原因。
为了避免这些问题，ＬＩＳＮ通常放置在水平面上，其外壳也与该平面相连。这一连接的电感可以通过使用一根扁铜编织带或金属支架来降低，这样，ＬＩＳＮ和平面之间的电连接就会有最大的可允许的表面面积。而且，支架还可以将ＬＩＳＮ牢牢地固定住，防止从这次测试到下次测试，其位置又发生变化。
图１由测试装置变化而引起测量结果的变化举例
和ＤＵＴ相关的变化产生的主要原因是设备与垂直参考面的距离。这一点对于没有地线连接的设备来说是至关重要的，由于其发射电平依赖于ＤＵＴ与接地平面之间的电容。为了解决这个问题，标准清楚地写道，设备必须放置在距垂直平面４０厘米处。下面的实验证明了不符合这个条件将会带来什么样的影响。然后，传感器和垂直平面之间的距离发生了变化。图３示出了当距离分别为２０、４０和６０厘米时得到的结果。在每种情况下，均使用长度为0.8米的电源电缆。中的曲线描述了ＤＵＴ与垂直平面之间的距离对低频段（１５０ＫＨｚ至１ＭＨｚ）的影响情况。
ＤＵＴ的位置同样也会影响变化。对于外壳仅由一种材料（无论是不是导体）制成的小型设备，ＤＵＴ位置的关系不很重要。然而，对于带有金属表面和非导电平面的外壳的大型设备，设备与参考面间距离的变化将会导致各次测试之间的差异。
EUT与垂直面间距离的改变导致的差异
为了重新生成至少带有一个金属表面的设备的测试结果，我们将原型放置在铝二面角之中。这一装置类似于将设备置于一个只有底面和后部的各侧面是金属的外壳中。这些侧面应该接地。这样，铝二面角中还应加入地线连接。
这一装置很容易比较金属侧面距垂直面最近和设备颠倒过来、金属侧面与垂直面最远两种情况下的读数。在这两种情况下，被大部分封装起来的ＤＵＴ的一部分被放置在距平面４０厘米处。图５示出了在两种情况下获得的结果。在１ＭＨｚ以下频率范围的变化是由两种情形中电容耦合的不同而引起的。
DUT位置的不同导致的差异
５ 变化之三：电源电缆
ＤＵＴ的电源是变化的主要来源，尤其是在高频段。与参考平面相比，电源电缆的位置在测试中可导致很大的差异。电缆的随意和不小心的布置（例如，电缆悬挂下来接触到了参考平面）能降低可重复性。可将电缆按照标准中规定的距离放置，或者记下它们的精确位置（例如，拍照片）以给后来的测试作标准，就能很容易地纠正这些影响。
然而，即使十分严格地按照标准中的规范来做，电缆的长度及其折叠方式仍然可能引起测试结果的变化。标准推荐使用８０厘米长的电缆。如果超过了这一长度，则应照标准将多余的这段以一种无电感的方式折叠起来。但是，就算按照这些要求去做，电缆的长度及其折叠方式仍然会影响可重复性，因为电缆可以按多种方式折叠成无电感。曲线比较了电缆长度为0.8米时获得的结果以及一根５米长的电缆按不同方式折叠起来所得到的结果。电缆长度的影响主要表现在５ＭＨｚ以上，它甚至能够导致某些情况下差别大于２５ｄＢ。
利用电源电缆长度为0.8米的测量
５米长的电源电缆被折
叠成了有电感的测量
５米长的电源电缆被折
叠成了无电感的测量
６ 变化之四：其它电缆
对于包含不同电缆类型（连接各种子系统或者提供来自于传感器的信号）的设备来说，必要的电缆长度和布置方法也许并不清楚。标准中规定，其长度和布置应能再现实际操作环境。这通常是不现实的，因为要重现实际条件是不可能的，或者说可能的条件太多了。
为说明电缆位置的重要性，我们将两种情况下的测试结果进行比较。第一种情况是温度传感器的１米长电缆距离垂直面４０厘米远且平行于垂直面放置；第二种情况是将电缆盘绕成一个直径为１０厘米的螺旋。
虽然直流信号在温度传感器的导线内传送不会产生任何发射问题，但是导线会成为其它无用信号的来源，它相对于参考平面位置的变化会改变设备和这个平面之间的耦合，因而也会改变发射电平的测试结果。而且，电缆的盘绕会改变它对高频信号的阻抗，从而改变了设备电流的分布。示出了电缆拉直和盘绕两种情况下获得的读数。
温度传感器导线位置不同导致的差异
当标准没有清楚地定义出电缆的精确位置时，可通过定义测试期间电缆的布置来减少测试结果的变化。标准中定义的要求必须满足，但也需要作出一些调整，形成一个测试基准来说明规定得不清楚的区域。在定义电缆布置的时候，应努力解决可以容易地再现的最糟糕的情况，还需要对电缆的分布作出清楚、精确的记录。
传导发射测试装置中的微小变化会引起测量读数的大量变化，尤其是在高频段。从这里所描述的实验中获得的结果表明，这些变化在实际中很容易产生，并每天都如此。人为因素产生的错误和标准中要求的宽松是导致这些测试可重复性差的两个主要原因。
人为的错误可以通过周密地计划所有的测试、密切注意标准中规定的测试装置的位置要求来减至最少。至于那些标准中没有明确定义的地方，测试结果的变化要通过限制电缆长度和布置，如详细说明ＤＵＴ相对于地面的位置，来减至最少。为了保证测试的可重复性，测试报告中应详细写明这些情况。
电磁干扰辐射发射的测量
频率管理对于蜂窝通信设备供应商具有两种不同的意义。对于蜂窝网运行而言，它可以使大量用户共享有限的资源。然而，也许更为重要的是，需要防止由一种电子设备发射的信号干扰其它电子设备的工作。对电磁干扰（EMI）辐射的测量，可以对元线设备所“传输”的能量值进行规范，从根本上防止干扰的产生。
测量辐射电磁发射可能采取两种形式，即相容性测试和预相容性测试。相容性测试通常是在产品设计周期结束时，在已校准的测试实验室中进行。这种测试的时间较长，并且当发现产品超过政府制订的辐射发射条例标准范围时，即便进行重新设计，克服电磁辐射问题，但却往往延误了产品的上市时间和销售的“最佳”时机，给产品销售带来巨大压力。
预相容性测试是代表评估电气产品辐射电磁发射的一种更实用的方法。电气产品辐射发射的预相容性测试对由电子设备散发出的电磁辐射提供重要的初步检查，并帮助隔离和控制产品内部的各种电磁辐射源。与在经仔细控制和己校准环境下进行的相容性测试不同，预相容性测试通常是在制造厂商自己的工厂内部、在不太严格的受控条件下进行的，当然，进行两类测试的测量设备也可能相类似。
电磁干扰测试的传统方法对一台样机进行预相容性测试，希望其辐射发射水平处在规定的极限之下。相容性测试成本相当昂贵：在独立测试实验室进行相容性测试的产品费用每天可能达2000美元或更多，还不包括排除电磁干扰问题的附加产品开发费用。
相容性测试是按照由一些主管机构如美国的联邦通信委员会（FCC）和设在瑞士日内瓦的国际无线电干扰专门委员会（CISPR）所制订的技术指标来进行。预相容性测试可能遵循相同的辐射发射规则，以便在样机阶段和在产品进入生产线之前隔离和排除有关问题。特别是，随着计算机和其他微处理器驱动的电子设备中时钟频率的提高，在更高频率处出现不需要的发射的可能性也相应增加。例如，若在被测设备（EUT）中产生或使用的最高频率处在108~500MHz（5次谐波）范围，则目前FCC要求测试到2GHz。若被测设备产生或使用500~1000MHz范围的信号，则辐射发射测试必须进行到5GHz。测试的基础是对最高基本工作频率或40GHz两者中较低的一个的5次谐波信号电平进行分析。
由于相容性测试是在传统设计过程的结束处开始的，故最终产品设计在首次测试期间不能达到电磁相容性（EMC）目标的概率很高，而需要一些辅助工程手段，如添加衬垫材料，这是一种比较容易办到的事情；也可能会遇到巨大困难，如重新设计印制电路板（PCB），使起类似天线作用的电路板布线重新设计绕行。
预相容性测试适用于评估主管机构制订的规则未涉及到的电子设计，并能以相容性测试一部分费用来完成。预相容性测试的目的是实现可能的最高精度，以使十分接近相容性测试系统的性能。评估辐射发射的典型预相容性测试系统由EMC接收机或频谱分析仪，宽带天线、近场探头和测量软件组成。必要时，可以增加低噪声放大器（LNA），以提高接收机/分析仪的灵敏度。此外，对于传导发射测试，还需要使用线路阻抗稳定网络（LISN）。USN可对来自交流电源输入功率滤波，防止线路传导噪声到达被测设备，并传导发射从被测设备行进到测量接收机。
测量天线将人射电场或磁场强度变换成可由接收机加以测量的电压。场强与天线输出端的电压之比称为天线因子。通过将天线因子（dB/m）追加到接收机读数（dBμV）上，结果得到如在天线辐射元上测得的电场强度（dBμV/m）。
选择供EMI测试用的天线涉及到在天线增益与带宽之间进行折衷。给出高测量灵敏度的高天线增益只对有限带宽才有可能。因此，传统上EMI测量使用了两种天线，即用于30~300MHz频率的双锥形天线和用于200~1000MHz频率的对数周期天线。单一天线可以覆盖频率范围30~1000MHz，尽管这类天线的设计往往比双锥形天线对数周期天线的总价格更高。
由于天线相对于被测设备的移动对检测最坏情况的发射十分重要，故用在屏蔽室中的EMI测试天线的安装必须能旋转到某个角度（通常为90°）以改变其极化性能。在屏蔽罩内，天线则应升高到外罩的接地平面上方。高度应在1~4m之间可调，以便遵从一些重要的EMI条例（如CISPR制订的条例）。这些测试天线还应能以垂直极化和水平极化方式工作，以便易于检测最坏情况的电磁干扰信号。
除天线之外，当试图隔离和识别被测设备中的电磁辐射源时，可以用近场探头来进行诊断。顾名思义，近场探头常用在离被测设备几英寸范围内，以检测高场强。近场探头在规定频率上以磁场强度单位dBμA/m/μV加以校准。它们还能评估EMI的抗扰度以及封装和外罩的屏蔽效果。安捷伦科技公司生产的用于9kHz ~30MHz的11941A型以及用于30MHz~1GHz的11940A型近场探头便是其中之一二。
用于辐射发射的EMI预相容性测试系统的最关键部分之一是测试接收机或频谱分析仪。EMI测试接收机能显示电压随频率变化的关系。测量结果通常以对数值给出，以便显示对1μV归一化（dBμV）的宽动态范围。按相应EMC主管机构所要求那样，EMC分析仪实质上是一种具有滤波器和检波器的无线电接收机。EMI接收机通常被调谐到固定频率或以频率步进调节，因而一般称之为固定调谐接收机或步进调谐接收机。具有适当滤波器和检波器的频谱分析仪也能完成EMC测量。频谱分析仪（也称为扫频接收机）能在整个带宽的频率间隔内进行快速模拟扫描。
无论EMI接收机或是频谱分析仪均采用超外差结构。在这类配置中，频率转换（从高输入信号转换到较低的中频（IF）是靠将输入信号与来自接收机或分析仪内部精密本振LO的混频来完成的。固定调谐方法则不具扫描接收机的速度。
在欧洲，用于相容性测试的EMI接收机必须满足CISPR Publication 16-1要求。这类接收机必须具有足够大的频率范围、供低电平测试的适当灵敏度以及足够大的动态范围，使能无失真地处理高电平信号。对滤波器带宽和检测方法也作了规定，使得在给定的一组条件下，用一台CISPR-16EMI接收机对特定被测设备进行的测量将与在类似的一组条件下用另一台CISPR-16EMI接收机对昆士被测设备进行的测量相一致。
一台优良的频谱分析仪可能增加CISPR滤波器和检波器功能，而不致于使成本有明显地增加。这些滤波器必须配备CISPR16所规定的屏蔽罩。所需要的滤波器为9~150kHz、且具有用于CISPR频带A的200Hz适当隔离带宽、150kHz ~30MHz且具有用于CISPR频带B的9kHz带宽以及30MHz~1GHz且具有用于CISPR频带C/D的120kHz6dB带宽的三类滤波器。然后，在没有基于EMC的固化软件时，频谱分析仪必须将测得的数据发送到外部计算机，以绘制合适的极限线并考虑天线因子。
为了防止过载并按照CISPR的要求对信号进行精确测量，EMI接收机应具有某种形式的预选器。预选器是位于接收机前端混频器之前的一系列不可调谐或可调谐滤波器。预选滤波器的带宽比EMI接收机或频谱分析仪中所用分辨带宽滤波器更宽。
当接收机在整个频率范围内调谐，预选器也调谐到相同的瞬时频率。通过跟踪接收机的频率，预选器将抑制掉在任何时候到达混频器而接收机不进行测量的那部分频谱。预选通过减小混频器上存在的脉冲信号的总能量（对这些脉冲信号的谐波进行频带限制）以及可能使用较小的输入衰减而提高了宽带灵敏度。
安捷伦科技公司生产的8546A/8542E系列仪器是EMI测量接收机的一个实例。该类仪器工作在2.6~6.5GHz频率范围内且满足CISPR16-1要求，直到2.9GHz具有±2dB的绝对幅度精度。分析仪的特点是，在CISPR频带C/D对准峰值测量具有-4dBμV的低噪声电平（曲型值）。多重屏幕显示能同时显示宽扫描间隔和窄扫描间隔。
检波器是CISPR相容性接收机的主要部分。峰值检波、准峰值检波和平均值检波均用来进行辐射发射和传导发射测量。某些技术要求包含了准峰值测量和平均值测量极限。当采用峰值检波时，检波器的时间常数可以使其跟上中频正弦波信号包络的最快变化，但不能反映中频正弦波的瞬时值。峰值检波器提供了三类检波方法的最佳测量速度，同时能给出被测设备辐射发射的最坏情况读数。当采用峰值检波进行测量时，若被测设备的发射低于特定极限，那么被测设备肯定能通过利用准峰值或平均值检波测量的规定测试。在此，被测信号出现在较低电平处。
准峰值检波器的输出电平将按照被测信号的脉冲速率而变化。准峰值检波器由特定时间常数定义。在低重复频率上，准峰值检波器具有适当的时间常数来对人射能量放电，从而得到较小的输出电压读数。在较高的重复频率上，检波器不再对足够多的入射能量放电，这时检波器的输出电压读数较大。最终，随着入射信号的重复频率趋近于连续波信号的重复频率，准峰值检波器的读数也将趋于峰值检波器的读数。
虽然准峰值检波器看上去似乎比峰值检波器更有利，但其响应时间却比峰值检波器慢得多。一般准峰值检波的测量时间比峰值检波测量可能要增加2~3个数量级。
平均值检波器有助于测量可能被宽带干扰淹没的窄带EMI信号。对于平均值检波器而言，经峰值检波的信号必须通过其带宽远小于分析仪的分辨带宽滤波器带宽的滤波器。滤波器对包络检波器输出端频率较高的信号分量（如噪声）进行积分或平均。
CISPR接收机实质上是一台调幅（AM）接收机，在这种接收机中，输入信号经准峰值检波加权。接收机包括滤除掉非线性信号响应的预选。通过利用脉冲发生器建立符合CISPR规定的脉宽、重复频率和幅度电平的测试信号来进行准峰值测量，可以证实EMI接收机是否满足CISPR Publication 16的技术要求。
例如，在150kHz ~30MHz范围的CISPR频带B内，幅度电平为+13VDc、脉宽为12ns的脉冲可以在EMI接收机输入端提供参考测试信号。脉冲重复频（PRF）范围从单个脉冲到每秒1000个脉冲（1000Hz）。可以观察到这个测试脉冲的正确EMI接收机幅度读数。例如，对于CISPR频带B的技术要求，100Hz PRF脉冲在EMC接收机上应得到60dBμV的显示幅度。若使用了1Hz PRF，则对于相同的60dBμV读数需要更大的22.5dB的脉冲幅度。
EMI测量系统的另一个关键部分是测试软件。利用适当的仪器驱动器，可以对接收机编程和控制，进行自动调谐和数据获取，甚至调节被测设备（在旋转台上）和测量天线的位置。软件应具有全自动数据获取和使用的功能，以简化记录有问题的信号和生成实用EMI报告的任务，使工程师可用来解决有关的辐射发射问题。
一旦组建起EMI测量系统就必须确定选择测试位置。 EMI的预相容性测量可以在许多不同的地点完成，包括屏蔽罩、半屏蔽罩和露天测试场地（OATS）。屏蔽罩是由导电壁、底板和顶板做成的小室。通常，屏蔽室由焊接或用螺栓连接的钢板制成。当然也可以用金属丝网甚至导电壁纸来制成。被测设备一般连同测试天线一起放在罩内，而其余测试设备则放在屏蔽室外，测试电缆和电源线的接人点经良好屏蔽，以将干扰减到最小。
屏蔽罩以适中成本提供一个稳定的环境且不受气候的影响。然而，由于表面导电效应，故来自被测设备的信号在屏蔽室内可能产生多次反射而形成驻波。依据房间的大小以及测试设备和测试天线的位置，反射波可能引起被测信号幅度发生重大变化。
露天测试场地不会受到屏蔽罩反射的损害。它利用金属底板来模拟正常使用中的被测设备，以保证测量可处处重复。然而，由于测量是在室外进行，所以将存在环境信号会被测试天线和EMI接收机检拾问题。因此，测试操作人员必须会判定哪些信号应当被测量，而哪些信号可以忽略不计。在露天测试场地，被测设备所发射的信号可能会被一些环境信号很强的信号（如广播电台发射的信号）淹没掉，还有可能引起EMI接收机的过载。为了在露天测试场地中进行长年测试，必须采用电磁传导材料来防止不利气候条件的影响。
成功的露天场地测试要求注意许多因素。露天场地必须满足相应的EMC标准的要求。必须对信号的周围环境有全面的了解，使之能有效地识别来自被测设备的可疑信号。在找出被测设备的最坏情况取向使信号幅度最大之后，再将其与测试极限进行比较。
部分无回波屏蔽室是一类用来模拟露天测试场地的屏蔽罩。为了消除普通无回波屏蔽室的多重反射，将电磁吸收材料添加到墙壁和天花板上，而地板仍维持导电表面。在某些方面（如低频性能），这类屏蔽室也很难达到露天测试场地的效果。为了使部分无回波屏蔽室接近露天测试场地的良好低频性能，特别是在30~100MHz范围的性能，必须使用大量具有长吸收圆锥或铁氧体瓦片形式的吸收材料。
材料会对EMI测试场地带来什么差异呢？在对存在和不存在吸收材料的房间内所完成的测试中，未屏蔽的房间表现出反映驻波和反射波可能会大到30dB 。当安装上屏蔽材料时，屏蔽房间的响应性能要好得多，尽管在30~8OMHz范围仍存在某些反射。这是因为屏蔽房间的尺寸太小的缘故。为了减小低频反射，需要大约3米长的圆锥形吸收材料才成。
露天测试场地的性能可能通过如ANSI C63.4中指出的现场衰减测试来检验。在这项测试中，已知幅度的信号源激励处于地面上方1米的发射天线，在此通常也放置被测设备。接收天线的高度从1米变化到4米，直到给出最大接收机读数的位置为止。记录下每个频率的信号幅度，并与发射（Tx）和接收（Rx）天线电缆连在一起时的幅度读数进行比较。对于可接受的露天场地性能，现场衰减测量应处在理论响应的±4dB以内。
若测试场地不是露天测试场地，（如部分无回波屏蔽室），则必须在待测最大型设备或系统所探寻的测试区内进行归一化现场衰减（NSA）测试。TX天线放置在测试区的中心和四个正交边缘上。因此，对垂直和水平天线极化要进行5次测量。
被测归一化现场衰减（AN）可以从下式求出：
AN=VDIR-VSITE-ATX-ATR-ΔAFTOT
=互阻抗修正系数
式中VDIR=发射天线处发射信号测量的最大值
ＶSITE=接收天线处发射信号测量的最大值
ATX=发射天线的天线因子
ATR=接收天线的天线因子
ΔAFTOT=互阻抗修正系数
NSA测量必须用处于水平极化和垂直极化的天线完成。在垂直极化的情况下，天线的终端至少必须高于地面25米。
对基于CISPR的辐射发射测试，将设备放置在可旋转3600
峰值和准峰值的关系
峰值（PK），所表现的就是测量波形的瞬时最大值。对应的峰值检波器就要求电路的充电足够快，而放电足够慢。峰值的大小只取决于信号的幅度。也正因为如此，在测量的时候用峰值检波扫描，只要所有信号的峰值都处在限值的下方，则EUT是合格的，无需进一步测量（前提是全面峰值扫描）。
准峰值（QP），所表现的是测量信号能量的大小。由于准峰值检波器的充电时间要比放电时间快得多，因此信号的重复频率越高，得出的准峰也就越高。（在GB9254-1998中提到过在测量接收机上所示的读数在限值附近波动时，则读数的观察时间应不少于15s，记录最高读数，而孤立的瞬间高值忽略不记。）准峰值检波器还能以线性方式对不同幅度的信号起响应。这样，准峰值既可以反映信号的幅度，也能反映出信号的时间分布。
注意：
1）幅度大、重复频率低的信号与幅度小、重复频率高的信号可能会有相同的准峰值输出。
2）对于连续波信号，准峰值测量的结果与峰值测量的结果是一样的。
3）准峰值测量要比峰值测量慢2-3个数量级。